65nm以下の先端テクノロジ・ノードで開発されているICは、わずかな製造ばらつきがICの性能低下や故障を招く原因になります。さらに、設計に固有なフィーチャーに影…［メンター・グラフィックス・ジャパン］

この技術解説では、Androidの設計、仕組み、ネットワーク対応機器の開発を加速するために、Androidをどのように活用できるかを考察していきます。またAnd…［メンター・グラフィックス・ジャパン］

電気によるアンプの発熱はどんな具合か？（あるいは正確な温度測定とはすべて程度の問題である）Q. 小型パッケージのオペアンプや類似のデバイスのダイ温度を測定する一…［アナログ・デバイセズ］

アプリケーションに最適なスイッチやマルチプレクサの選定方法について、ご紹介しています。アナログ・デバイセズは、さまざまな信号範囲の一素子入りおよび複数素子入りの…［アナログ・デバイセズ］

電気化学センサの定電位回路の性能を向上させて高精度の検出を可能にする、超低入力バイアス電流アンプ「LMP7721」アンプを紹介。［ナショナル セミコンダクター ジャパン］

通信インフラ機器向けSIMPLE SWITCHERパワー・モジュール［ナショナル セミコンダクター ジャパン］

LTC®3577/LTC3577-1は携帯機器のパワーマネージメントの多数の機能を1個のICに集積化し、ハンドヘルド機器の複雑さ、コストおよび基板面積を減らしま…［リニアテクノロジー］

リチウムイオン・バッテリ・システムでは、各セルの充電状態を整合させてバッテリパックの性能と寿命を最大化することが重要です。セルの寿命は深放電と過充電の両方を防ぐ…［リニアテクノロジー］

アナログ-デジタル/デジタル-アナログ・コンバータの確度は温度変化によって劣化しますが、厳密にはどの程度まで劣化するのでしょうか。設計者にはよく分かっていること…［日本テキサス・インスツルメンツ］

この用語集は、テキサス・インスツルメンツのデルタ・シグマ（）型、逐次近似レジスタ（SAR）、およびパイプライン ADコンバータの仕様と性能特性に関する定義を収録…［日本テキサス・インスツルメンツ］

検証の新しいアプローチEVEは、 ASIC/SoCデバッグと組み込みソフトウェア検証の両方を対象として、従来のエミュレーションとラピッドプロトタイピング・システ…［日本イヴ］

革新的な検証アプローチEVEは、従来のエミュレータとラピッドプロトタイピングの長所を併せ持つ、まったく新しいハードウェア活用型検証手法を開発し、それを一枚のボー…［日本イヴ］

電磁波関連機器・部品の解析設計を支援する電磁波解析専用ソフトウェア(CAE)です[特長]・「EMC・EMI問題への対策」を支援　有限差分時間領域法(FDTD)の「PAM-CEM/FD」または有限要素時...［日本イーエスアイ］