Design Centers 計測/検査装置
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10Gbpsに対応したハンドヘルド型アイパターン アナライザ (2008.12.22)
インバータ制御機能を備えたパターンジェネレータ (2008.12.18)
低コストのアナログICテスト装置、 最大8個の同時測定が可能 (2008.12.02)
16chのロジック入力に対応したオシロスコープ、 Tektronix社が低価格品をシリーズ展開 (2008.11.18)
アジレントのパワー半導体向けアナライザ、 3000V/20Aまでの特性評価を実現 (2008.11.05)
横河電機のミックスドシグナルオシロ、 ミッドレンジ機で8CHのロジック入力にも対応 (2008.11.04)
エヌエフ回路設計ブロック、 IOtech社製データアクイジション製品の販売を開始 (2008.10.29)
オシロスコープでベクトルシグナル解析が可能に、 Tektronix社が専用解析ソフトを発表 (2008.10.27)
アジレント、研究開発向けに汎用の MIMO受信機テスターを販売 (2008.10.07)
アドバンテスト、車載用半導体試験装置の Credence Systems社の買収を完了 (2008.08.29)
三菱電機、外径15cmで重量10kgと小型の 電子加速器を開発 (2008.08.29)
高速シリアルI/Fの計測環境を提供、 日本テクトロが専用施設を開設 (2008.08.28)
W-CDMA/HSPA対応の携帯電話機テストツール、 3GPP規格への適合試験が可能 (2008.08.25)
NI社、「LabVIEW」のシステム設計モジュール 初期バージョンを2009年中に投入 (2008.08.15)
-『NIWeek 2008』から
LabVIEWの新バージョン、 マルチコアとFPGAへの対応を強化 (2008.08.08)
——『NIWeek 2008』から






