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帯域3GHz/6GHzのスペクトラムアナライザ、80万円台の価格でノイズフロアは－161dB
ローデ・シュワルツ・ジャパンは2010年3月、スペクトラムアナライザの新製品「R＆S FSC3」と「同FSC6」を発売した。前者は周波数範囲が9kHz～3GHz、後者は9kHz～6GHz。価格は80…

2010年3月11日 [計測/検査装置]
「サーチ機能の追加などで使いやすさを徹底追求」――アジレントが中位機オシロの新シリーズを発表
アジレント・テクノロジーは2010年3月、同社デジタルオシロスコープの中位機種に当たる「InfiniiVision」シリーズに、「Agilent InfiniiVision 7000Bシリーズ（以下…

2010年3月4日 [計測/検査装置]
リーダー電子がシグナルレベルメーター製品を刷新、レベルとBER/MERの同時測定/表示が可能に
リーダー電子は2010年3月、都内で記者会見を開き、放送波の受信状態を測定するための計測器であるシグナルレベルメーターの製品ラインアップを刷新すると発表した。　同社社長の弘田成彦氏（写真1）は、…

2010年3月2日 [計測/検査装置]
BERとアイパターンの同時測定が可能、光アクティブデバイス向けの計測器
アンリツは2010年1月、光信号を変調したり、電気信号に変換したりする光アクティブデバイスの評価用として、「MP2100A BERTWaveシリーズ（以下、MP2100A）」を開発したと発表した…

2010年2月2日 [計測/検査装置]
DDR3の物理層試験を自動的に行うコンプライアンス試験パッケージ
レクロイ・ジャパンは2010年1月、DDR3メモリーインターフェースの物理層試験を自動的に実行するテストパッケージ「QualiPHY-DDR3」を発売したと発表した。同社のリアルタイムオシロスコ…

2010年2月1日 [計測/検査装置]
最大1000Aまでの大電流測定に対応する携帯型クランプメーター
アジレント・テクノロジーは2010年1月、直径が最大で2インチ（約5cm）までのケーブルに対応する携帯型クランプメーター「U1210シリーズ」を発売した。測定可能な電流値は最大1000A。価格は…

2010年1月6日 [計測/検査装置]
アンリツの携帯型アナライザ用解析ソフトウエア、LTE対応が可能に
アンリツは2009年11月、同社のスペクトラムアナライザ「MS272xB」や基地局アナライザ「MT8222A」、「MT8221B」向け解析ソフトウエアを発表した。これらをMS272xB、MT8222…

2009年12月7日 [計測/検査装置]
最大32台分の通信機器の動作を模倣可能なエミュレータ
アンリツは2009年10月、ネットワークエミュレータ「CX750A」を発表した。携帯型の通信機器やデジタル家電、OA機器など、ネットワーク接続機能を備える電子機器の試験用環境をパソコン上で実現するソ…

2009年11月9日 [計測/検査装置]
外乱光の影響を受けずに反射光を検出できるCMOSカメラ、単眼で測距が可能
スタンレー電気は、『第41回東京モーターショー2009』（10月24日～11月4日）において、単眼でも撮影対象までの距離を測定可能なCMOSセンサーカメラ「ビジョンチップカメラ」を展示した（写真…

2009年10月26日 [計測/検査装置] [カーエレクトロニクス]
SerialTek社のSAS/SATA向けプロトコルアナライザ、アジレントが国内販売を開始
アジレント・テクノロジー（以下、アジレント）は2009年10月、米SerialTek社のSAS（Serial Attached SCSI）/SATA（Serial ATA）向けのプロトコルアナラ…

2009年10月20日 [計測/検査装置] [通信機器]

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LXI/PXI がもたらすメリット
パソコンや複数の計測器（計測モジュール）によって構成される計測システムでは、標準化された通信規格が必要になる。その代表となっているのが、LXIとPXIの両規格である。現在、それぞれの規格に準拠した計測器が、徐々に普及しつつある。本稿では、LXI、PXIそれぞれの特徴を説明した上で、両規格の推進団体が2009年に行った取り組みについてまとめる。また、それぞれの規格がどのような計測用途に適しているのかといったことも紹介する。

2010年3月号 [計測/検査装置]
SEMを用いないで太陽電池ウェーハを検査
太陽電池の製造過程では、太陽電池セルが欠陥品でないかどうかの検査が必要となる。その検査方法として、多くの製造メーカーは、SEM（走査型電子顕微鏡）を用いてウェーハの状態でチェックする手法を採用してい…

2010年3月号 [電子部品/個別部品] [計測/検査装置]
光デバイス向けの測定器、BER/アイパターンを同時計測
MP2100A BERTWaveシリーズ

2010年3月号 [計測/検査装置]
LTE解析を可能にするアナライザ向けソフトウエア
解析ソフトウエア

2010年1月号 [計測/検査装置]
アナログオシロを再評価
最近では、どこの現場でもデジタルオシロスコープが使われることが多くなり、アナログオシロスコープを目にする機会は少なくなった。しかし、デジタルオシロスコープは、その製造元や機種によって扱い方が異なる。…

2009年12月号 [計測/検査装置]
高スループットのベクトルシグナルジェネレータ
2920A型

2009年11月号 [計測/検査装置]
分解能が5.5/6.5桁のデジタルマルチメーター
DMM4000

2009年11月号 [計測/検査装置]
NAND型フラッシュの試験/評価用サイクルテスター
NCT-100型

2009年11月号 [計測/検査装置]
「熱雑音と同レベルまでノイズフロアを低減可能」――アジレントの最上位シグナルアナライザ
アジレント・テクノロジー（以下、アジレント）は2009年10月、「Xシリーズプラットフォーム（以下、Xシリーズ）」を採用するシグナルアナライザの最上位機種として「PXAシリーズ」を発表した。最大の…

2009年11月号 [計測/検査装置]
Sパラメータ対応を強化した可搬型ネットワークアナライザ
MS2026B、MS2028B

2009年10月号 [計測/検査装置]

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3/26 Webセミナー：MATLAB & Simulinkによるアナログ/ミックスドシグナル設計の改善
本Webセミナーでは、MATLAB & Simulinkにより、どのようにこれらの困難を克服すること…
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